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FORCE 原力精密儀器

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S8 AFM:

採用獨特掃針式探針,免對光點,換針容易,樣品尺寸易調整 。
實際案例:精材科技-晶圓背面粗糙度量測



 
整合式NSOM:

scanner整合Olympus IX71 倒立式光學顯微鏡,可進行穿透與接收之實驗。
實際案例:中研院物理所

 
開放式NSOM:

採用開放式架構,模組下方可自行架設光路 。
實際案例:清大化學

 

 

 

 

 
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